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검사용현미경
[PSM1000] [BA310MET] [AE2000MET] [Xi-CAM]
[Components] [VIS series]
[ PSM1000_Probe Station Microscope ]
PSM1000은 Probe Station Microscope 입니다.
근자외선,가시광선,근적외선 영역의 모든 레이져 작업을 지원할 수 있습니다.
특히 95mm Parfocal 대물렌즈는 50배율에서 34mm ~1000배율에서 13mm 작업거리를 가지고 있습니다.
[ BA310Met ]
Motic BA310MET는 CCIS 광학계로 설계된 효율적인 정립형 금속현미경 입니다.
명시야에서 50x,100x,200,500x,1000x 배율을 지원합니다.

-Episcopic illumination Type 정립형 금속현미경
-Brightfield, Polarizing Accessories 다양한 검경법으로 폭 넓은 샘플 관찰이 가능
-대학, 기업 연구소 등의 분석 및 연구용
-MEMS, Semiconductors, Materials, IC Packages, FPD, PCB 등
[ AE2000MET ]
전자 부품들, 재료, 광물들, 다이캐스팅 부분등 산업 및 과학적 연구 분석에 사용되는 도립형 산업현미경입니다.

-Compact size의 도립형 금속현미경
-대학, 기업, 연구소 모든 산업 분야에서 사용 가능
-280x180mm surface; 50X50mm movement 무거운 샘플 관찰에도 안정적인 Mechanical Stage
[ Xi-CAM ]
접촉/비접촉 검사가 가능한 고화질 영상현미경 입니다.
투과,반사,측사 조명장치와 저배율에서 고배율까지 다양한 활용이 가능합니다.
[ Components ]
Comonents를 사용하여 필요한 기능과 크기로 현미경을 구성할 수 있습니다.
각종 필터, 대물렌즈, 접안렌즈, 조명장치를 선택할 수 있습니다.
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